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标题: 请教一个计算二维材料迁移率中间接带隙有效质量的选择的问题 [打印本页]

作者
Author: Dawn_4D 时间: 2022-9-10 23:11
标题: 请教一个计算二维材料迁移率中间接带隙有效质量的选择的问题
我所用的是一个二维的正交晶格，所以我计算的迁移率是x方向、y方向
那么我需要选择的有效质量，那实际上就是VBM、CBM对于高对称点X、Y方向的有效质量。
这里我使用的是vaspkit计算有效质量
这里有一个问题
我所选的材料，其价带顶位于高对称点G点，而导带底位于高对称点Y点，这里一个尴尬的情况就出现了
我能够算出VBM对于高对称点X、Y方向上的有效质量，因为其在G点，所以计算的是G->X G->Y
那么对于导带底CBM的有效质量该怎么办呢？它本来就在Y点了，我怎么可能再去计算Y->Y方向的有效质量?
而且Y->X方向的有效质量是正确的吗？
还有一种有效质量的情况我也不太理解，那就是VBM或者CBM不在高对称点，而求x、y方向的迁移率，是以该点为基准呢?还是以最近的高对称点为基准呢？
还请各位老师解惑

作者
Author: SuXD 时间: 2025-7-2 09:58
请问你解决了吗？我也遇到了这个问题

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